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法国TESTIA D-LAM 分层缺陷快速检测仪

2021年03月04日 字体:
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法国TESTIA D-LAM 分层缺陷快速检测仪
D-LAM 工具是针对CFRP/GFRP制成的层压结构,受冲击后的分层缺陷进行快速检测而研发的Go/No Go相控阵工具。

主要技术特点:


•加快了飞机维修操作人员(无须持证)执行复合材料分层缺陷检测的流程;
•超便携:该设备由最紧凑的工业相控阵超声仪器构成(仅600g),非常适合在役检测;
•结果自动分析:由于采用〝交通灯式 Go - NoGo〞式设计,即使无证人员也可实现分层缺陷检测,系统可自动分析结果并具有声学耦合监控功能,避免出现漏检现象;
•应用范围广:该设备不受结构厚度变化的影响。
•单次扫查宽度49.6mm